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顆粒測(cè)試基本知識(shí)百問百答之十三常見粒度測(cè)試方法

更新時(shí)間:2017-04-24      點(diǎn)擊次數(shù):3068

常用的粒度測(cè)試方法有激光散射法(毫米、微米、納米)、動(dòng)態(tài)光散射法(納 米)、動(dòng)態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法(微米、粒度和粒形)、重力和離心沉降法(微米 / 納米)、庫爾特(電阻)法(微米)、電鏡法(微米、納米)、超聲波法(微米)、透氣法(微米平均粒度)以及篩分法(大于 38 微米)等。目前zui常用的是激光散射法、動(dòng)態(tài)光散射法和顯微圖像法。

  

         (激光法)                      (圖像法)

  

         (光阻法)                        (透氣法)

 

              (超聲波法)               (篩分法)

   

              (沉降法)                    (電阻法)

(動(dòng)態(tài)光散射法)

 

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